Equipements utilisés en Microscopie

  • Microscope Olympus en lumière polarisée : avec système d'acquisition en temps réel par caméra CCD, équipé en température (80K-900K) 
  • Microscope à forces atomiques : BRUKER-Veeco Multimode 8, avec électronique Nanoscope V, incluant les modules de piézo-réponse, boîte d'accès aux signaux et de quantification de la réponse mécanique. Système d'application de tension-détection synchrone piloté par ordinateur (générateur de functions NF 1965, lockin SRS 844 RF, oscillateur numérique HP),
  • Microscope électronique : en transmission FEI Titan Cubed G2 60-300. Alignement de 3 tensions d'accélération (80, 200 et 300 kV) d'une cathode X-FEG, colonne dotée d'un correcteur sonde Sc DCOR pour l'imagerie en balayage (STEM), d'un biprisme et module d'analyse  pour l'holographie, d'une caméra CCD et un module de spectroscopie de perte d'électrons (EELS GATAN Enfinium 300, de quatre détecteurs pour l'imagerie de rayonnement X (EDX) Super-X contrôlé par logiciel BRUKER. Porte-échantillons pour la tomographie ainsi que les modules d'analyse,
  • Microscope électronique par photoémission : X-PEEM NanoESCA, dans le cadre du projet MesoXope porté par le laboratoire SPCSI-CEA Saclay, pour la caractérisation et imagerie chimique et électronique des surfaces.

 

DIRECTEUR DU LABORATOIRE

Guilhem DEZANNEAU Téléphone : + 33 01 75 31 64 20 Courriel : guilhem.dezanneau at centralesupelec.fr

DIRECTEUR ADJOINT

Pietro CORTONA Téléphone : + 33 01 75 31 66 22 Courriel : pietro.cortona at centralesupelec.fr